Ⅰ:
યાંત્રિકથી વિપરીતભીંગડા, ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ પ્રાયોગિક વજન માટે ઇલેક્ટ્રોમેગ્નેટિક બળ સંતુલનના સિદ્ધાંતનો ઉપયોગ કરે છે, અને તેમાં બિલ્ટ-ઇન લોડ સેલ હોય છે, જેનું પ્રદર્શન ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલની ચોકસાઈ અને સ્થિરતાને સીધી અસર કરે છે. જો કે, વિવિધ બાહ્ય વાતાવરણ અને ઇલેક્ટ્રોમેગ્નેટિક હસ્તક્ષેપ તેની ચોકસાઈ અને સ્થિરતાને અસર કરશે, તેથી આપણે ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલનો ઉપયોગ કરતી વખતે યોગ્ય ઉપયોગ પદ્ધતિ પર ધ્યાન આપવું જોઈએ, કારણ કે આ તેની વજન ચોકસાઈમાં સુધારો કરશે અને તેની સેવા જીવનને લંબાવશે. તો જો ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ ઉપયોગ દરમિયાન અસામાન્ય હોય તો આપણે શું કરવું જોઈએ? નીચે કેટલીક સામાન્ય ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ ફોલ્ટ નિરીક્ષણ પદ્ધતિઓ છે. રસ ધરાવતા મિત્રો તેમના વિશે જાણવા માંગી શકે છે.
Ⅱ:
યાંત્રિક ભીંગડાથી અલગ, ઇલેક્ટ્રોનિક ભીંગડા પ્રાયોગિક વજન માટે ઇલેક્ટ્રોમેગ્નેટિક બળ સંતુલન સિદ્ધાંતનો ઉપયોગ કરે છે, અને તેમાં બિલ્ટ-ઇન લોડ કોષો હોય છે, જેનું પ્રદર્શન ઇલેક્ટ્રોનિક ભીંગડાની ચોકસાઈ અને સ્થિરતાને સીધી અસર કરે છે. જો કે, વિવિધ બાહ્ય વાતાવરણ અને ઇલેક્ટ્રોમેગ્નેટિક હસ્તક્ષેપ તેની ચોકસાઈ અને સ્થિરતાને અસર કરશે, તેથી આપણે ઇલેક્ટ્રોનિક ભીંગડાનો ઉપયોગ કરતી વખતે યોગ્ય ઉપયોગ પદ્ધતિ પર ધ્યાન આપવું જોઈએ, કારણ કે આ તેની વજન ચોકસાઈમાં સુધારો કરશે અને તેની સેવા જીવનને લંબાવશે. તો જો ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ ઉપયોગ દરમિયાન અસામાન્ય હોય તો આપણે શું કરવું જોઈએ? નીચે કેટલીક સામાન્ય ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ ફોલ્ટ નિરીક્ષણ પદ્ધતિઓ છે. રસ ધરાવતા મિત્રો તેમના વિશે જાણવા માંગી શકે છે.
Ⅲ:
આનિરીક્ષણ ની પદ્ધતિઓ ઇલેક્ટ્રોનિક ભીંગડા'cસર્વસામાન્ય દોષ:
૧. સાહજિકMરીતરિવાજ
ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલના મુખ્ય સર્કિટ બોર્ડ પર ઘણા ઘટકો હોય છે, અને શોર્ટ સર્કિટ, ઓપન સર્કિટ, પ્લગ અને સોકેટનો નબળો સંપર્ક અને ઘટક ટ્યુબના ખૂણાઓના ખુલ્લા વેલ્ડીંગને કારણે ઘણી ખામીઓ થાય છે. તેથી, જ્યારે કિંમત માપન સ્કેલ નિષ્ફળ જાય છે, ત્યારે તમારે પહેલા સર્કિટ બોર્ડને સાહજિક સમજ સાથે તપાસવું જોઈએ: દૃષ્ટિ, શ્રવણ, ગંધ, સ્પર્શ અને અન્ય પદ્ધતિઓ.
2. સરખામણી અને અવેજી પદ્ધતિ
ફોલ્ટ નિરીક્ષણ દરમિયાન, ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલની તુલના સાધનની મદદથી ખામીયુક્ત સ્કેલ સાથે કરી શકાય છે, અને ફોલ્ટ પોઇન્ટ ઝડપથી શોધી શકાય છે. વધુમાં, જો કામ પર તૈયાર કરેલા સેન્સર, સર્કિટ બોર્ડ, પાવર સપ્લાય, કીબોર્ડ અને અન્ય ઘટકોને નુકસાન થયું હોવાની શંકા હોય, તો તેને તૈયાર કરેલા ઘટકથી બદલો, અને પછી અવલોકન કરો કે પરિણામ બદલાય છે કે નહીં. જો તે સામાન્ય હોય, તો તેનો અર્થ એ છે કે મૂળ ઘટકમાં સમસ્યા છે. સરખામણી અને અવેજી પદ્ધતિ ઝડપથી અને સચોટ રીતે ફોલ્ટ પોઇન્ટ નક્કી કરી શકે છે.
3. વોલ્ટેજMમાપદંડMરીતરિવાજ
ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ સર્કિટ ઘટકોના કાર્યકારી વોલ્ટેજના માપન અને ચિપના દરેક ટ્યુબ એંગલની તુલના સામાન્ય મૂલ્ય સાથે કરે છે. જે જગ્યાએ વોલ્ટેજ મોટા પ્રમાણમાં બદલાય છે તે ફોલ્ટનું સ્થાન છે.
4. ટૂંકુંCઇર્ક્યુટ અનેOપેનCઇર્ક્યુટMરીતરિવાજ
શોર્ટ-સર્કિટ પદ્ધતિ એ સર્કિટના ચોક્કસ ભાગને શોર્ટ-સર્કિટ કરવાની છે, અને પછી ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ ઓસિલોસ્કોપ અથવા મલ્ટિમીટર પરીક્ષણના પરિણામો દ્વારા ફોલ્ટ પોઇન્ટનું મૂલ્યાંકન કરે છે. ઓપન સર્કિટ પદ્ધતિ એ સર્કિટના ચોક્કસ ભાગને ડિસ્કનેક્ટ કરવાની છે, અને પછી ફોલ્ટ પોઇન્ટ નક્કી કરવા માટે પ્રતિકાર, વોલ્ટેજ અથવા કરંટ માપવા માટે મલ્ટિમીટરનો ઉપયોગ કરે છે.
પોસ્ટ સમય: જૂન-૧૫-૨૦૨૨