ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ જાળવણીની પદ્ધતિ

Ⅲ:

આનિરીક્ષણ ની પદ્ધતિઓ ઇલેક્ટ્રોનિક ભીંગડા'cઓમોન દોષ:

1. સાહજિકMઇથોડ

ઈલેક્ટ્રોનિક સ્કેલના મુખ્ય સર્કિટ બોર્ડ પર ઘણા બધા ઘટકો હોય છે, અને શોર્ટ સર્કિટ, ઓપન સર્કિટ, પ્લગ અને સોકેટના નબળા સંપર્ક અને ઘટક ટ્યુબ કોર્નર્સના ખુલ્લા વેલ્ડિંગને કારણે ઘણી ખામીઓ થાય છે. તેથી, જ્યારે પ્રાઇસિંગ સ્કેલ નિષ્ફળ જાય, ત્યારે તમારે સૌપ્રથમ સર્કિટ બોર્ડને સાહજિક અર્થમાં તપાસવું જોઈએ: દૃષ્ટિ, શ્રવણ, ગંધ, સ્પર્શ અને અન્ય પદ્ધતિઓ.

2. સરખામણી અને અવેજી પદ્ધતિ

ફોલ્ટ ઈન્સ્પેક્શન દરમિયાન, ઈન્સ્ટ્રુમેન્ટની મદદથી ઈલેક્ટ્રોનિક સ્કેલને ખામીયુક્ત સ્કેલ સાથે સરખાવી શકાય છે અને ફોલ્ટ પોઈન્ટ ઝડપથી શોધી શકાય છે. વધુમાં, જો કામ પર તૈયાર સેન્સર, સર્કિટ બોર્ડ, પાવર સપ્લાય, કીબોર્ડ અને અન્ય ઘટકોને નુકસાન થવાની આશંકા હોય, તો તેને તૈયાર કરેલ ઘટક સાથે બદલો, અને પછી પરિણામ બદલાય છે કે કેમ તેનું નિરીક્ષણ કરો. જો તે સામાન્ય છે, તો તેનો અર્થ એ છે કે મૂળ ઘટક સાથે સમસ્યા છે. સરખામણી અને અવેજી પદ્ધતિ ઝડપથી અને સચોટ રીતે ફોલ્ટ પોઈન્ટ નક્કી કરી શકે છે.

3. વોલ્ટેજMસરળતાMઇથોડ

ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ સર્કિટ ઘટકોના કાર્યકારી વોલ્ટેજના માપન અને ચિપના દરેક ટ્યુબ કોણને સામાન્ય મૂલ્ય સાથે સરખાવે છે. તે સ્થાન જ્યાં વોલ્ટેજ મોટા પ્રમાણમાં બદલાય છે તે ફોલ્ટનું સ્થાન છે.

4. ટૂંકુંCircuit અનેOપેનCircuitMઇથોડ

શોર્ટ-સર્કિટ પદ્ધતિ એ સર્કિટના ચોક્કસ ભાગને શોર્ટ-સર્કિટ કરવાની છે, અને ઇલેક્ટ્રોનિક સ્કેલ પછી ઓસિલોસ્કોપ અથવા મલ્ટિમીટર પરીક્ષણના પરિણામો દ્વારા ફોલ્ટ પોઇન્ટ નક્કી કરે છે. ઓપન સર્કિટ પદ્ધતિ એ સર્કિટના ચોક્કસ ભાગને ડિસ્કનેક્ટ કરવાની છે, અને પછી ફોલ્ટ બિંદુ નક્કી કરવા માટે પ્રતિકાર, વોલ્ટેજ અથવા વર્તમાન માપવા માટે મલ્ટિમીટરનો ઉપયોગ કરો.